掃描電鏡觀察不限于樣品表面,為了研究樣品的內部結構、測定鍍層厚度、元素擴散、填料是否均勻等,必須將樣品斷開,露出截面,按上述方法將斷口面朝上安裝,在電鏡中成像。截面制備方法分為兩類:直接斷口和拋光截面。1.直接斷口...[繼續(xù)閱讀]
掃描電鏡與能譜儀分析技術
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掃描電鏡觀察不限于樣品表面,為了研究樣品的內部結構、測定鍍層厚度、元素擴散、填料是否均勻等,必須將樣品斷開,露出截面,按上述方法將斷口面朝上安裝,在電鏡中成像。截面制備方法分為兩類:直接斷口和拋光截面。1.直接斷口...[繼續(xù)閱讀]
非導電樣品絕緣電阻大,在電子束的連續(xù)掃描下,樣品表面逐漸積累負電荷,形成相當高的負電場,排斥入射電子,二次電子發(fā)射不穩(wěn)定,并隨機偏轉二次電子軌跡,影響探測器接收,造成圖像晃動、亮度突變、出現無規(guī)則的明暗條紋,這就是...[繼續(xù)閱讀]
為保證準確的定量結果,樣品應該滿足如下條件:①在真空和電子束轟擊下穩(wěn)定,樣品的組分不會蒸發(fā)或分解。②分析面平坦,一般要求與電子束垂直,保證檢測的幾何條件不變。③樣品上最小被檢尺寸應大于X射線擴散范圍,減少基體的影...[繼續(xù)閱讀]