1064 nm納秒激光輻照下HfO2/SiO2增透膜損傷的動(dòng)態(tài)過程研究
中國激光
頁數(shù): 14 2024-04-25
摘要: 時(shí)間分辨的泵浦探測(cè)技術(shù)是研究光學(xué)元件損傷動(dòng)態(tài)過程的有力手段。基于增強(qiáng)電荷耦合器件(ICCD)的時(shí)間分辨泵浦探測(cè)技術(shù),對(duì)比研究了1064 nm納秒激光輻照下HfO
2/SiO
2增透膜膜面處于激光入射面(正向過程)和出射面(反向過程)兩種情況下的動(dòng)態(tài)損傷過程。在同一能量密度(52 J/cm~2)激光輻照下,正向和反向過程都產(chǎn)生了無膜層剝落的小坑損傷以及伴隨膜層剝落的小坑損傷,但反... (共14頁)