伴隨粒子中子檢測系統發(fā)展及應用

摘要： 基于快中子技術的無損檢測方法能夠在不對檢測物造成影響的情況下，發(fā)現其隱藏的危險品。利用D-T反應時伴隨中子產生的反沖α粒子對有效中子進行標記，可大幅提高中子探測信噪比，同時通過空間分辨α粒子還可以獲得被檢測對象特征元素的空間信息，所以基于伴隨α粒子的中子檢測方法在安檢領域具有重要的應用前景。本文簡單介紹了基于伴隨α粒子中子檢測方法的原理和系統組成，并對系統的中子管、α粒子探測器... （共14頁）