海量資源,盡在掌握
 隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,新型電鏡及其顯微觀測(cè)技術(shù)不斷誕生。目前利用反饋回路控制探針在距樣品表面納米量級(jí)位置掃描成像,用來獲得有關(guān)樣品表面的各種信息,這些電鏡有:掃描隧道顯微鏡(STM)、原子力顯微鏡(AFM)、激光力顯微鏡(L (共 1890 字) [閱讀本文] >>